南京集成电路产业服务中心在2018年建成200平米超净实验室，主要支持晶圆级先进器件测试。实验室拥有300mm半自动探针台，可搭载单颗Die至12寸晶圆，并且支持full mapping测试方式。同时搭配通用基础共享实验室仪器资源，涵盖各类精密源表，信号源，示波器，频谱仪，网络分析仪，逻辑分析仪等，可供客户灵活选择，拓展测试需求。

DC/CV测试平台支持Diode、Resistor、BJT、MOS等各类器件电路的常规电学参数测试

ALFNA 先进低频噪声分析测试系统可实现FET、BJT、Diode、Resistor、电路的完整的噪声测量及直流特性表征

覆盖10MHz~110GHz的射频测试平台，可支持各类RF器件电路的S参数，噪声系数，频谱，功率，负载牵引等测试要求

探针台覆盖-55℃~+300℃的测试环境，可提供成套DC/CV及RF精确模型测试

实验室平台可为产品研发、设计验证、生产确认以及客户个性化量测提供优质的服务